“大范围表面形貌测量白光场扫描技术研究”项目立项
- 2019/6/28 8:32:21 17058
- 来源：上海市计量测试技术研究院
【仪表网 仪表研发】近日，2019年度国家航空科学基金项目评审结果公布，上海市计量测试技术研究院机械制造所雷李华博士申报的“大范围表面形貌测量白光场扫描技术研究”获立项资助，这是上海市计量测试技术研究院获批国家航空科学基金实验室类项目。
上海市计量测试技术研究院(SIMT)是我国早建立的计量检定专业机构之一，是上海地区由国家授权的法定计量检定机构，也是国家计量行政部门批准设立的大区计量测试中心——“华东国家计量测试中心”，国家科技行政部门命名的测试中心——“中国上海测试中心”，迄今已走过80多年的历程。
国家航空科学基金创立于1985年，是航空工业开展基础研究的主渠道之一，主要用于开展装备预研航空工业联合基金中的基础研究类项目，重点资助对航空技术和武器装备发展具有应用前景或潜在应用前景的基础研究和应用基础研究。
“大范围表面形貌测量白光场扫描技术研究”项目基于已有的传统白光干涉测量装置，着重研究双角度白光倾斜扫描干涉术、自适应变速扫描技术和单幅图像白光干涉分析中的关键理论问题，建立扫描过程模型，解决扫描过程中表面数据点的追踪问题，突破传统垂直白光扫描技术的横向测量视场范围的限制，提高大尺寸表面形貌的快速测量与重构能力，可解决航空航天、纳米制造等产业测量中的大范围、高精度测量需求，有利于促进航空科学技术的发展和进步。
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