【仪表网 仪表产业】近日，国家自然科学基金委员会公布了2020年度国家重大科研仪器研制项目评审结果，合肥工业大学微电子学院梁华国教授团队申请的“纳米集成电路边缘缺陷测试分析仪研制”获得国家重大科研仪器研制项目资助。
该测试分析仪的研制将为芯片的设计与测试提供支持，可填补芯片边缘缺陷测试分析仪的空白，为我国芯片测试设备的研制奠定基础。该项目的顺利实施将有力推动合肥工业大学“强芯计划”集成电路测试平台的建设，对合肥市强芯科技创新中心国家集成电路测试相关产业发展具重要作用。
数十年来，梁华国教授团队在集成电路测试领域、容错计算与硬件安全、嵌入式系统综合与测试、智能控制系统等方向进行了深入研究，先后承担国家973子课题、国家自然科学基金重大研究计划、国家自然科学基金重点、国家自然科学基金面上、国家自然科学基金青年等项目近20项，省部级及其他委托科研项目20余项，发表高水平学术论文百余篇，出版英文专著一部，获得安徽省科技进步奖、安徽省自然科学奖、安徽省教学成果奖多项。
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